Mesure résolue en temps de la durée de vie des porteurs de charge dans un semi-conducteur par absorption des micro-ondes. Laser (accordable 225 à 2000 nm) Circuit Micro-onde (30 Ghz) Détection électronique (Tektronik)
Laser EKSPLA NT342B
Aucune info
Oui
2ème sous-sol
350
801
Nom | Laboratoire | |
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Christophe COLBEAU-JUSTIN | christophe.colbeau-justin@u-psud.fr | LABORATOIRE DE CHIMIE PHYSIQUE |