Microscopies à sondes locales (AFM-MFM et STM-BEEM)
Description
Microscopies à sondes locales (AFM-MFM et STM-BEEM). Permettent d’obtenir des résolutions ultimes de l’ordre de 10 nm et de remonter à la structure des parois de domaines magnétiques.
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AFM
BEEM
magnétique
MET
MFM
microfluidique
microscope
microsonde
résolution
sonde
STM
Université Paris Sud - Sciences (Université Paris Sud - Sciences)
Portail réalisé en 2013 par des
apprentis
en informatique de Polytech Paris-Sud
Refonte agile du portail en 2014, puis 2015 par Samy GHRIBI, étudiant à Centrale Paris.
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