Plateforme de Spectroscopie Electronique XPS-AES-UPS : Analyse chimique quantitative de surface des matériaux, Profil en profondeur (abrasion par ions Ar ou C60), Cartographie, Mesure du travail de sortie
Physical Electronics
Phi 5000 VersaProbe
http://lgep.geeps.centralesupelec.fr/index.php?page=prestations-XPS-AES-UPS
Oui
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GeePs
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Nom | Laboratoire | |
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David ALAMARGUY | david.alamarguy@lgep.supelec.fr | LABORATOIRE DE GENIE ELECTRIQUE ET ELECTRONIQUE DE PARIS |